전자공학부 나태희 교수 연구팀, MRAM 기반 디지털 지문 회로 기술 IEEE TCAS-Ⅰ(IF 5.2) 논문 게재 승인
글번호
411827
작성일
2025-09-04
수정일
2025-09-04
작성자
전자공학부 (032-835-8440 / 8923 / 8940 / 8959)
조회수
662
논문 제목 : Reliability-Enhanced Offset-Canceling Current-Sampling Sense Amplifier for 2T-2MTJ MRAM PUF
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